自写c4-5算法，包含运行小例子，包括决策树，以及训练误差和检验误差的算法

STM32矩阵键盘测试代码以及完整工程使用的是正点原子的精英版测试的，可通过串口发送所按下的按键的键值工程完整，注释清楚，可以直接使用方便移植此次的实验GPIO口链接图： C4-----------_-PC0 C3-----------_-PC1 C2-----------_-PC2 C1-----------_-PC3 R1-----------_-PC4 R2-----------_-PC5 R3-----------_-PC6 R4-----------_-PC7波特率是115200

一. 实验目的1.了解ALU的功能和使用方法2.认识和掌握超前进位的设计方法3.认识和掌握ALU的逻辑电路组成4.认识和掌握ALU的设计方法二. 实验原理从结构原理图上可推知，本实验中的ALU运算逻辑单元由4个一位的ALU运算逻辑单元组成。
每位的ALU电路由全加器和函数发生器组成。
事实上，是在全加器的基础上，对全加器功能的扩展来实现符合要求的多种算术/逻辑运算的功能。
为了实验多种功能的运算，An、Bn数据是不能直接与全加器相连接的，它们遭到功能变量F3—F1的制约，由此，可由An、Bn数据和功能变量Xn、Yn，然后，再将Xn、Yn和下一位进位Cn-1通过全加器进行全加运算以实现所需的运算功能。
C0为最低位的进位输入端，C4为最高位ideas进位输入端，Sn为运算结果。
一位算/逻辑运算单元的逻辑表达式如下

BCICompetition2003（第二次BCI大赛）共包含一名女性受试者，年龄为25岁，健康情况良好。
所有的试次（Trials）均在同一天完成，实验分为七组来进行，总共280个试次。
单个Trial的持续时间为9秒，C3、Cz、C4三个电极通道的数据以双导联方式被记录下来，如下图2.1所示，系统的采样频率为128Hz。
280个试次包含140个训练集数据及140个测试集数据，训练集及测试集的正确标签均已给出

在日常工作中，钉钉打卡成了我生活中不可或缺的一部分。然而，有时候这个看似简单的任务却给我带来了不少烦恼。 每天早晚，我总是得牢记打开钉钉应用，点击"工作台"，再找到"考勤打卡"进行签到。有时候因为工作忙碌，会忘记打卡，导致考勤异常，影响当月的工作评价。而且，由于我使用的是苹果手机，有时候系统更新后，钉钉的某些功能会出现异常，使得打卡变得更加麻烦。 另外，我的家人使用的是安卓手机，他们也经常抱怨钉钉打卡的繁琐。尤其是对于那些不太熟悉手机操作的长辈来说，每次打卡都是一次挑战。他们总是担心自己会操作失误，导致打卡失败。 为了解决这些烦恼，我开始思考是否可以通过编写一个全自动化脚本来实现钉钉打卡。经过一段时间的摸索和学习，我终于成功编写出了一个适用于苹果和安卓系统的钉钉打卡脚本。