通过高分辨率电子束光刻方法制备了不同形状的三层复合材料纳米颗粒，研究了这种纳米颗粒的形状变化对消光特性的影响。
测试结果表明，当入射波偏振方向平行于短轴时，随着长宽比的增大，共振峰位置发生“蓝移”；
当光源偏振方向平行于长轴时，随着长宽比的增大，共振峰位置发生“红移”。
还用时域有限差分算法以及表面等离波子的Lorentz模型对纳米颗粒的消光特性进行数值计算，所得的消光频谱曲线、共振峰位置变化趋势与实验基本一致。
此外，还研究了主体材料层厚度对消光特性的影响，发现其厚度在20~90nm变化时，共振峰发生3~115nm的“蓝移”。

我们建议使用1-atom-thick的结构，即单个石墨烯片用于Airy等离子体激元（AiP）的动态控制。
石墨烯层不仅用作引导介质，而且用作AiP的调节剂。
通过改变外部偏置电压，可以改变表面等离激元波的有效模式指数。
因此，AiP的偏转和传播距离是动态控制的。
由于石墨烯等离激元的优势，石墨烯AiP可能导致紧凑而灵活的AiP设备。
本文对于诸如可调谐等离激元光路由和片上信号处理之类的相关应用也可能是有益的。

从理论上研究了增益辅助二维金属纳米粒子（NP）阵列中平面晶格等离激元（OLP）的共振放大。
由于角度相关的近场光学特性，可以通过调整入射光的角度来控制基于OLP的spaser的增益阈值。
事实证明，与活性等离子NP阵列相比，OLP的表面等离激元（SP）扩增阈值更低。
进行并排比较以不同入射角激发的ILP和OLP的电场定位和增强，以了解它们的不同打散性能。
结果还表明，NP阵列中晶格等离激元的增益阈值远低于单个NP中局部SP的增益阈值。

在日常工作中，钉钉打卡成了我生活中不可或缺的一部分。然而，有时候这个看似简单的任务却给我带来了不少烦恼。 每天早晚，我总是得牢记打开钉钉应用，点击"工作台"，再找到"考勤打卡"进行签到。有时候因为工作忙碌，会忘记打卡，导致考勤异常，影响当月的工作评价。而且，由于我使用的是苹果手机，有时候系统更新后，钉钉的某些功能会出现异常，使得打卡变得更加麻烦。 另外，我的家人使用的是安卓手机，他们也经常抱怨钉钉打卡的繁琐。尤其是对于那些不太熟悉手机操作的长辈来说，每次打卡都是一次挑战。他们总是担心自己会操作失误，导致打卡失败。 为了解决这些烦恼，我开始思考是否可以通过编写一个全自动化脚本来实现钉钉打卡。经过一段时间的摸索和学习，我终于成功编写出了一个适用于苹果和安卓系统的钉钉打卡脚本。