利用stm32F407单片机驱动线阵CCD传感器--tcd1304，其他型号stm32单片机稍作更改即可应用
2023/6/4 0:21:42
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该体系可用于红外光学体系成像品质的检测,它用CCD付与信号,经由自动聚焦,检测最小成像光斑的位置、大小、光能漫衍以及牢靠像面光斑的外形与大小,以数据以及三维图形展现丈量下场,评估光学体系的成像品质。
2023/5/12 6:49:53
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STM32F030F系列的线性CCD图像传感器驱动法度圭表标准，CCD硬件模块为TCD1254GFG，也搜罗数据的输入，硬件电路图木有，也看不懂。
2023/5/12 2:58:41
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HJ-1数据读取补钉，直接双击运行.sav或者拷贝sav文件到ENVI装置目录的save_add目录下，启动ENVI-＞File-＞OpenExternalFile-＞HJ-1-＞HJ-1A/1BTools货物。
直接读取CCD、HIS、IRS数据，输入下场为一个多波段的ENVI尺度栅格文件，并带有中间波长等信息，其中CCD数据能够直接输入定标下场（辐射亮度）。
直接读取CCD、HIS、IRS数据，输入下场为一个多波段的ENVI尺度栅格文件，并带有中间波长等信息，其中CCD数据能够直接输入定标下场（辐射亮度）。
2023/4/21 21:32:31
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暗电流在迷信级电荷耦合器件(CCD)长功夫曝光测试试验中是首要的噪声之一。
试验测试了暗电流信号平均计数随曝光功夫的变更关连，并经由盘算患上出-10℃以及-20℃下暗电流分别为2.43ADU/(s·pixel)以及0.4854ADU/(s·pixel),同时测试了暗电流随CCD制冷温度的变更特色，下场展现暗电流随温度相似指数函数方式变更。
由于CCD机械快门的功夫照料特色对于迷信级光学CCD的短时曝光计数的影响比力大，试验测试了CCD平均计数以及曝光功夫的关连，患上出试验所用的TEK512pixel×512pixelDBCCD的机械快门在18ms时能够残缺掀开。
试验测试了暗电流信号平均计数随曝光功夫的变更关连，并经由盘算患上出-10℃以及-20℃下暗电流分别为2.43ADU/(s·pixel)以及0.4854ADU/(s·pixel),同时测试了暗电流随CCD制冷温度的变更特色，下场展现暗电流随温度相似指数函数方式变更。
由于CCD机械快门的功夫照料特色对于迷信级光学CCD的短时曝光计数的影响比力大，试验测试了CCD平均计数以及曝光功夫的关连，患上出试验所用的TEK512pixel×512pixelDBCCD的机械快门在18ms时能够残缺掀开。
2023/3/21 22:47:06
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用STM32驱动CCD，并采集CCD输入信号上传PC机。
用STM32驱动CCD，并采集CCD输入信号上传PC机STM32;CCD;
用STM32驱动CCD，并采集CCD输入信号上传PC机STM32;CCD;
2023/3/21 3:22:46
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在日常工作中，钉钉打卡成了我生活中不可或缺的一部分。然而，有时候这个看似简单的任务却给我带来了不少烦恼。
每天早晚，我总是得牢记打开钉钉应用，点击"工作台"，再找到"考勤打卡"进行签到。有时候因为工作忙碌，会忘记打卡，导致考勤异常，影响当月的工作评价。而且，由于我使用的是苹果手机，有时候系统更新后，钉钉的某些功能会出现异常，使得打卡变得更加麻烦。
另外，我的家人使用的是安卓手机，他们也经常抱怨钉钉打卡的繁琐。尤其是对于那些不太熟悉手机操作的长辈来说，每次打卡都是一次挑战。他们总是担心自己会操作失误，导致打卡失败。
为了解决这些烦恼，我开始思考是否可以通过编写一个全自动化脚本来实现钉钉打卡。经过一段时间的摸索和学习，我终于成功编写出了一个适用于苹果和安卓系统的钉钉打卡脚本。
2024-04-09 15:03
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