等高线追踪基于TIN绘制等高线直接利用原始观测数据，避免了DTM内插的精度损失，因而等高线精度较高；
对高程注记点附近的较短封闭等高线也能绘制；
绘制的等高线分布在采样区域内而并不要求采样区域有规则四边形边界。
而同一高程的等高线只穿过一个三角形最多一次，因而程序设计也较简单。
但是，由于TIN的存贮结构不同，等高线的具体跟踪算法跟踪也有所不同。
基于三角形搜索的等高线绘制算法如下：对于记录了三角形表的TIN，按记录的三角形顺序搜索。
其基本过程如下：1）对给定的等高线高程h，与所有网点高程zi（i=1,2,?，n），进行比较，若zi=h，则将zi加上（或减）一个微小正数ε＞0（如ε=10-4），以使程序设计简单而又不影响等高线的精度。
2）设立三角形标志数组，其初始值为零，每一元素与一个三角形对应，凡处理过的三角形将标志置为1，以后不再处理，直至等高线高程改变。
3）按顺序判断每一个三角形的三边中的两条边是否有等高线穿过。
若三角形一边的两端点为P1（x1，y1，z1），P2（x2，y2，z2）则(z1-h)(z2-h)0表明该边无等高线点。
直至搜索到等高线与网边的第一个交点，称该点为搜索起点，也是当前三角形的等高线进入边、线性内插该点的平面坐标（x，y）：
对高程注记点附近的较短封闭等高线也能绘制；
绘制的等高线分布在采样区域内而并不要求采样区域有规则四边形边界。
而同一高程的等高线只穿过一个三角形最多一次，因而程序设计也较简单。
但是，由于TIN的存贮结构不同，等高线的具体跟踪算法跟踪也有所不同。
基于三角形搜索的等高线绘制算法如下：对于记录了三角形表的TIN，按记录的三角形顺序搜索。
其基本过程如下：1）对给定的等高线高程h，与所有网点高程zi（i=1,2,?，n），进行比较，若zi=h，则将zi加上（或减）一个微小正数ε＞0（如ε=10-4），以使程序设计简单而又不影响等高线的精度。
2）设立三角形标志数组，其初始值为零，每一元素与一个三角形对应，凡处理过的三角形将标志置为1，以后不再处理，直至等高线高程改变。
3）按顺序判断每一个三角形的三边中的两条边是否有等高线穿过。
若三角形一边的两端点为P1（x1，y1，z1），P2（x2，y2，z2）则(z1-h)(z2-h)0表明该边无等高线点。
直至搜索到等高线与网边的第一个交点，称该点为搜索起点，也是当前三角形的等高线进入边、线性内插该点的平面坐标（x，y）：
2023/11/9 22:08:01
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Cass等高线修改内插工具Cass等高线修改内插工具Cass等高线修改内插工具Cass等高线修改内插工具Cass等高线修改内插工具Cass等高线修改内插工具
2023/9/11 7:26:41
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基于时域有限差分法/时域多分辨（FDTD/MRTD）混合方法研究了微粗糙光学表面与多体缺陷粒子的复合光散射问题。
建立微粗糙光学表面与掩埋多体粒子复合散射模型，利用DB2小波尺度函数的移位内插原理，将计算区域分别划分为MRTD和FDTD方法区域，推导出复合散射场，计算微粗糙光学表面中掩埋多体粒子的复合散射截面，并与矩量法的结果比较以验证该方法的有效性。
分析入射角、气泡粒子的个数、相对位置及深度等物性特征对微粗糙光学表面与掩埋多体粒子复合双站散射截面的影响。
上述结果为光学无损检测、光学薄膜、微纳米结构的光学性能设计等领域提供技术支持。
建立微粗糙光学表面与掩埋多体粒子复合散射模型，利用DB2小波尺度函数的移位内插原理，将计算区域分别划分为MRTD和FDTD方法区域，推导出复合散射场，计算微粗糙光学表面中掩埋多体粒子的复合散射截面，并与矩量法的结果比较以验证该方法的有效性。
分析入射角、气泡粒子的个数、相对位置及深度等物性特征对微粗糙光学表面与掩埋多体粒子复合双站散射截面的影响。
上述结果为光学无损检测、光学薄膜、微纳米结构的光学性能设计等领域提供技术支持。
2023/7/9 22:57:55
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在日常工作中，钉钉打卡成了我生活中不可或缺的一部分。然而，有时候这个看似简单的任务却给我带来了不少烦恼。
每天早晚，我总是得牢记打开钉钉应用，点击"工作台"，再找到"考勤打卡"进行签到。有时候因为工作忙碌，会忘记打卡，导致考勤异常，影响当月的工作评价。而且，由于我使用的是苹果手机，有时候系统更新后，钉钉的某些功能会出现异常，使得打卡变得更加麻烦。
另外，我的家人使用的是安卓手机，他们也经常抱怨钉钉打卡的繁琐。尤其是对于那些不太熟悉手机操作的长辈来说，每次打卡都是一次挑战。他们总是担心自己会操作失误，导致打卡失败。
为了解决这些烦恼，我开始思考是否可以通过编写一个全自动化脚本来实现钉钉打卡。经过一段时间的摸索和学习，我终于成功编写出了一个适用于苹果和安卓系统的钉钉打卡脚本。
2024-04-09 15:03
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