上传STM8L-discovery内部温度ADC检测官方程序
2023/9/19 3:05:22 1.08MB STM8L
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这个实验在上个实验的基础上把原来由采集函数触发ADC改成把启动ADC的代码放到了定时器了,这样CCD的采集函数就放到了中断里来完成了
2023/9/16 20:13:45 15.97MB CCD 定时器触发 ADC触发 DMA传输
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STM32ADC模数转换代码测试通过
2023/9/16 13:32:48 300KB STM32 ADC
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运用ADC采样电压判断数码管每段的电压是否正常。
如不正常就是缺段
2023/9/14 19:23:25 12MB STM8 ADC 连续采样
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STM32F446包括IO操作,SPI操作,内部定时器,ADC的DMA方式,DAC的DMA方式,UART的DMA方式,CAN的通用方式。
适合STM32F4xx系统
2023/9/12 2:10:04 7.86MB STM32F446 STm32F407
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AD7705模块(双路16位ADC)模块原理图+STC89C52AVRSTM8S208C8T6STM32F407单片机软件源码工程+技术文档资料
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STM32L071RBT6与SIM868通讯模块代码,经测试可用。
内含I2C,SPI,ADC,UART等功能模块。
2023/9/9 19:20:31 22.06MB STM32L071RBT SIM868
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Farrow滤波器的设计,用于采样率的转换。
采样率转换可以看成是一个重采样的过程,先以某一采样率Fx对原始信号采样,将得到的数字信号X(kTx)经过数模转换器变成模拟信号,然后再经过ADC用另一采样率Fy进行采样。
这样的方法优点是采样速率可以任意选择且与原始采样率无关,但是DAC在恢复信号的时候会引入失真,经过二次采样时的ADC变换器中的量化也会引入失真,另外还需要精确的ADC和DAC以及精确的高阶的模拟反镜像滤波器。
所以在模拟领域经行采样率变换是很难实现的。
但是我们可以将采样率变换在全数字领域完成。
直接将一个采样率为Fx的数字信号通过数字滤波器转换成一个采样率为Fy的数字信号。
2023/9/8 19:20:20 1KB Farrow 滤波器的设计
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MCU:STM32F103ZET6功能:通过ADC采集数据显示在LCD液晶屏上并通过串口发送说明:基于例程进行修改到手可用
2023/9/8 15:27:02 241KB ADC 串口 液晶显示
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MSP430F5529经过ADC采样,通过DMA传输到串口发送,波特率9600,采用内置串口,只需要一根USB线连接即可
2023/9/4 12:25:39 56KB MSP430 DMA ADC采样 MSPF5529
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在日常工作中,钉钉打卡成了我生活中不可或缺的一部分。然而,有时候这个看似简单的任务却给我带来了不少烦恼。 每天早晚,我总是得牢记打开钉钉应用,点击"工作台",再找到"考勤打卡"进行签到。有时候因为工作忙碌,会忘记打卡,导致考勤异常,影响当月的工作评价。而且,由于我使用的是苹果手机,有时候系统更新后,钉钉的某些功能会出现异常,使得打卡变得更加麻烦。 另外,我的家人使用的是安卓手机,他们也经常抱怨钉钉打卡的繁琐。尤其是对于那些不太熟悉手机操作的长辈来说,每次打卡都是一次挑战。他们总是担心自己会操作失误,导致打卡失败。 为了解决这些烦恼,我开始思考是否可以通过编写一个全自动化脚本来实现钉钉打卡。经过一段时间的摸索和学习,我终于成功编写出了一个适用于苹果和安卓系统的钉钉打卡脚本。
2024-04-09 15:03 15KB 钉钉 钉钉打卡