HDS日立AMS2100、2300存储更换控制器/控制单元操作指南

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这是应客户要求编写的一套PLC程序，是针对日立螺杆冷水机组RCU200SC2而编写，我可以很肯定地说：这套程序绝对优于原日立厂的程序，已经使用半年了，一切都运行正常！客户很满意！(含接线图)

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如题，DriveFitnessTestv4.16绿色硬盘版，直接解收缩到C盘，重启电脑就可使用。
制作这个版本的原因是：官网上下载的DFT需要软驱大概光驱才气使用，不是很便捷。
DriveFitnessTestv4.16绿色硬盘版使用：装置DOS到C盘；
解收缩到硬盘（C盘），重启电脑就可。
DFT的使用方式:1,启动电脑,进入DFTutilities界面中。
2,在DFT所显展现的两个选项:1.SCSIandATAsupport2.ATAsupportonly铛铛遴选"2.ATAsupportonly"。
3,选定您需要举行DFT测试的硬盘。
若遴选操作窗口中的QuickTest是随机遴选硬盘中多少个扇区举行测试,耗时较短。
4,若遴选AdvancedTest则是对于硬盘举行片面检测。
在检测实现后,DFT将会报告响应的检测代码(DFTErrorCode),假如检测代码为:0X00,则展现硬盘不任何下场。
假如是0X00之外的,请再联系日立的反对于中间并提供响应的测试下场来举行缺陷阐发。
5,运行Uilities菜单中的EraseDisk/EraseBootSector/SectorRepair能够修复一些坏道的情景。
如在运行了EraseBootSector后再运行EraseDisk就可实现硬盘的低级格式化。
咱们建议您在检测及低格您的硬盘前,先将您的弥留数据做好备份。
注：假如测试代码是0x70,则展现硬盘中被查出含有坏道。
请实施货物栏Utilities菜单下的"EraseDisk"对于磁盘举行清零来实现逻辑坏道修复。
EraseDisk操作实现之后,您可再运行一次AdvancedTest来未必硬盘中的逻辑坏道能否已经被删除了。
假如二次测试代码为0x00,展现坏道已经消除了,您可络续普通使用硬盘。
假如二次测试代码照常为0x70或者0x75,则展现该硬盘已经破损,已经不软件修复的大概性。
*假如先实施Utilities菜单下的"EraseBootSector"再实施对于立菜单下的"EraseDisk"能够对于硬盘举行低级格式化。
**假如您的硬盘中存有弥留数据,请不要实施"EraseBootSector"或者"EraseDisk"操作。

即日在ScrumAlliance的网站上，有心中看到一个篇题为“”的漫笔，它介绍了甚么是Scrum的每一日立会(DailyStand-up)，并在一张表中总结了好的Scrum每一日立会应该具备的特质以及方式，并针对于每一种特质给出了欠好情景的描摹，以及大概普及的改善以及普及的方式。
这篇文章不长，当总结的极其好，尤为是上面这张表：别看Scrum每一日立会的定义以及内容极其约莫，但要真正开好，照常颇有难度的。
松散我总体的实际体味，表中列出的：Self-Organization以及Respect这两点

日立HitachiHGST硬盘c1门APM修改工具，支持1T硬盘HTS721010A9E630（2.1.7版本，里面包含FT217B1FT217B2FT217B1000三个文件，自在选用），也可参照PDF教程自行修改以支持更多硬盘

在日常工作中，钉钉打卡成了我生活中不可或缺的一部分。然而，有时候这个看似简单的任务却给我带来了不少烦恼。 每天早晚，我总是得牢记打开钉钉应用，点击"工作台"，再找到"考勤打卡"进行签到。有时候因为工作忙碌，会忘记打卡，导致考勤异常，影响当月的工作评价。而且，由于我使用的是苹果手机，有时候系统更新后，钉钉的某些功能会出现异常，使得打卡变得更加麻烦。 另外，我的家人使用的是安卓手机，他们也经常抱怨钉钉打卡的繁琐。尤其是对于那些不太熟悉手机操作的长辈来说，每次打卡都是一次挑战。他们总是担心自己会操作失误，导致打卡失败。 为了解决这些烦恼，我开始思考是否可以通过编写一个全自动化脚本来实现钉钉打卡。经过一段时间的摸索和学习，我终于成功编写出了一个适用于苹果和安卓系统的钉钉打卡脚本。