基于c++和深度学习算法的骨架检测算法，可以实时运行，但需要基本的Nvidia的显卡，实测显卡750TI可以实时
2025/6/23 11:29:46
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模拟信号经过ADC采样后变成数字信号，数字信号可以进行FFT运算，在频域中更容易分析信号的特征。
此代码用STM32F407的ADC-DMA模式采集4096个点的数据，利用DSP库里的FFT算法进行快速傅里叶变换，经实测可以使用。
此代码用STM32F407的ADC-DMA模式采集4096个点的数据，利用DSP库里的FFT算法进行快速傅里叶变换，经实测可以使用。
2025/6/22 12:11:22
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通过比较研究，讨论了尘埃粒子的存在对等离子体衰减特性的影响。
主要讨论了三种情况下的衰减系数：1)仅考虑粒子间的碰撞；
2)考虑粒子间的碰撞以及电子、离子对尘埃粒子的充电；
3)在2)的基础上考虑背景等离子体电势的影响。
在推导出衰减系数的基础上，选取火箭喷焰为典型实例，详细给出了衰减系数随温度、压强以及频率变化趋势。
研究结果表明：在微波段低频区时，温度、压强皆有临界值，使得对应的衰减系数变化产生低谷。
当温度、压强一定时，尘埃等离子体的衰减系数峰值出现在共振频率附近，峰值与共振频率之间的距离取决于温度、压强对共振频率的影响；
温度、压强、频率相同时，计算三种情况下的衰减系数，第三种的总是大于前两种的，且所得衰减系数正好处在实测范围内。
所以，在计算衰减系数时需要考虑背景等离子体电势的影响。
主要讨论了三种情况下的衰减系数：1)仅考虑粒子间的碰撞；
2)考虑粒子间的碰撞以及电子、离子对尘埃粒子的充电；
3)在2)的基础上考虑背景等离子体电势的影响。
在推导出衰减系数的基础上，选取火箭喷焰为典型实例，详细给出了衰减系数随温度、压强以及频率变化趋势。
研究结果表明：在微波段低频区时，温度、压强皆有临界值，使得对应的衰减系数变化产生低谷。
当温度、压强一定时，尘埃等离子体的衰减系数峰值出现在共振频率附近，峰值与共振频率之间的距离取决于温度、压强对共振频率的影响；
温度、压强、频率相同时，计算三种情况下的衰减系数，第三种的总是大于前两种的，且所得衰减系数正好处在实测范围内。
所以，在计算衰减系数时需要考虑背景等离子体电势的影响。
2025/6/18 22:17:27
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aspose.cellforjava实测excel转pdf破解版，仅用几行代码转换，希望可以帮到大家
2025/6/10 10:45:10
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1.软件启动后，会自动搜索可用的串口，可以显示详细的串口信息，由于兼容性原因某些电脑可能不会显示。
2.超高波特率接收，在硬件设别支持的情况下，可自定义波特率，点“自定义”即可输入您想要的波特率，不过需要在串口关闭的情况下，才能修改哦。
默认可选波特率为1200bps-1382400bps3.可以选择为“1、1.5、2”三种停止位.4.可以选择“5、6、7、8”四种数据长度5.可选奇，偶校验，或无校验6.支持串口随时插拔，对于某些硬件设别，由于驱动兼容性的原因可能不支持，实测CH340无问题，建议手动关闭串口
2.超高波特率接收，在硬件设别支持的情况下，可自定义波特率，点“自定义”即可输入您想要的波特率，不过需要在串口关闭的情况下，才能修改哦。
默认可选波特率为1200bps-1382400bps3.可以选择为“1、1.5、2”三种停止位.4.可以选择“5、6、7、8”四种数据长度5.可选奇，偶校验，或无校验6.支持串口随时插拔，对于某些硬件设别，由于驱动兼容性的原因可能不支持，实测CH340无问题，建议手动关闭串口
2025/6/9 20:40:43
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在日常工作中，钉钉打卡成了我生活中不可或缺的一部分。然而，有时候这个看似简单的任务却给我带来了不少烦恼。
每天早晚，我总是得牢记打开钉钉应用，点击"工作台"，再找到"考勤打卡"进行签到。有时候因为工作忙碌，会忘记打卡，导致考勤异常，影响当月的工作评价。而且，由于我使用的是苹果手机，有时候系统更新后，钉钉的某些功能会出现异常，使得打卡变得更加麻烦。
另外，我的家人使用的是安卓手机，他们也经常抱怨钉钉打卡的繁琐。尤其是对于那些不太熟悉手机操作的长辈来说，每次打卡都是一次挑战。他们总是担心自己会操作失误，导致打卡失败。
为了解决这些烦恼，我开始思考是否可以通过编写一个全自动化脚本来实现钉钉打卡。经过一段时间的摸索和学习，我终于成功编写出了一个适用于苹果和安卓系统的钉钉打卡脚本。
2024-04-09 15:03
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