金属网栅和氧化铟锡(ITO)等透明导电膜是实现电磁屏蔽和可视兼容的常用材料，但其屏蔽和可见光透射率受到了很大的限制。
通过解决屏蔽、导电与可视功能相互制约的矛盾，可有效提高电磁屏蔽与可视功能的兼容性。
为此，报道了一种金属光子晶体透明膜。
采用磁控溅射制备了ITO/Ag为周期的金属光子晶体透明膜，研究了周期结构对样品屏蔽效能、透射率和方阻的影响。
研究表明，随着单位周期金属膜厚的增加，可见光600~800nm波段透射率降低10%以上，可见光透射光谱变窄。
同时400～600nm波长范围内透射率并没有随金属膜厚的增加而降低，甚至升高。
随着单位周期金属膜厚增加，微波频段的屏蔽效能相应提高，方阻相应降低。
实验证实：光子晶体膜的屏蔽效能与光子晶体中总金属膜厚不存在明确的因果关系，而是与“金属-电介质”的纳米周期结构相关。
制备了一种屏效高达70dB，方阻低达2.1Ω，透射率大于50%的光子晶体膜。
通过解决屏蔽、导电与可视功能相互制约的矛盾，可有效提高电磁屏蔽与可视功能的兼容性。
为此，报道了一种金属光子晶体透明膜。
采用磁控溅射制备了ITO/Ag为周期的金属光子晶体透明膜，研究了周期结构对样品屏蔽效能、透射率和方阻的影响。
研究表明，随着单位周期金属膜厚的增加，可见光600~800nm波段透射率降低10%以上，可见光透射光谱变窄。
同时400～600nm波长范围内透射率并没有随金属膜厚的增加而降低，甚至升高。
随着单位周期金属膜厚增加，微波频段的屏蔽效能相应提高，方阻相应降低。
实验证实：光子晶体膜的屏蔽效能与光子晶体中总金属膜厚不存在明确的因果关系，而是与“金属-电介质”的纳米周期结构相关。
制备了一种屏效高达70dB，方阻低达2.1Ω，透射率大于50%的光子晶体膜。
2015/3/8 6:19:45
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EMSF61XA微球测井仪是石油勘探重要的电法测井仪器，主要用于探测钻进地层的冲洗带电阻率Rxo1，配合DLL双侧向测井的浸入带和原状地层电阻率，可以很好地判断地层的渗透性等。
在过去的2年里EMSF61XA测井仪器2在测井或保养仪器过程中不断出现相敏检波板厚膜电路N1损坏的问题，造成测井作业返工，极大地影响了测井时效，增大了设备的维修成本。
文中通过对问题发生过程的综合判断和进一步地测试，发现了问题根源，并通过仪器电路的改进来最终消除了问题发生的根源，使仪器可靠地工作。
在过去的2年里EMSF61XA测井仪器2在测井或保养仪器过程中不断出现相敏检波板厚膜电路N1损坏的问题，造成测井作业返工，极大地影响了测井时效，增大了设备的维修成本。
文中通过对问题发生过程的综合判断和进一步地测试，发现了问题根源，并通过仪器电路的改进来最终消除了问题发生的根源，使仪器可靠地工作。
2018/3/11 20:44:19
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隐形斗篷在这里，我创建了一件披风，可以使您隐形。
它运用掩膜技术。
它包括3个步骤：-1)Storingabackgroundimageinavariable2)Detectingtheredcolourfromthevideo.3)Maskingthereddetectedpartwiththebackgroundimage.＃快乐编码:)
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2018/7/13 22:14:06
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传统非接触式涂层厚度测量方法有哪些优势跟弊端，新型的非接触测厚系统的原理是什么，跟传统非接触涂层测厚测量方法有哪些相反点跟不同点呢？查看文档
2015/4/20 12:39:07
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在日常工作中，钉钉打卡成了我生活中不可或缺的一部分。然而，有时候这个看似简单的任务却给我带来了不少烦恼。
每天早晚，我总是得牢记打开钉钉应用，点击"工作台"，再找到"考勤打卡"进行签到。有时候因为工作忙碌，会忘记打卡，导致考勤异常，影响当月的工作评价。而且，由于我使用的是苹果手机，有时候系统更新后，钉钉的某些功能会出现异常，使得打卡变得更加麻烦。
另外，我的家人使用的是安卓手机，他们也经常抱怨钉钉打卡的繁琐。尤其是对于那些不太熟悉手机操作的长辈来说，每次打卡都是一次挑战。他们总是担心自己会操作失误，导致打卡失败。
为了解决这些烦恼，我开始思考是否可以通过编写一个全自动化脚本来实现钉钉打卡。经过一段时间的摸索和学习，我终于成功编写出了一个适用于苹果和安卓系统的钉钉打卡脚本。
2024-04-09 15:03
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