ADS124S08测试程序，STM32F407驱动，SPI接口，采样率800~4K编程可配置，采样数据位为24位，实测采样精度很高。
2023/10/28 3:23:47
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本次程序使用KEIL开放平台，STM32F767作为硬件平台，使用STM32三重ADC采样模式，提高ADC采样率
2023/10/11 22:33:27
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虚拟一个PXI-4472，编制一个完整的LabVIEW软件，完成功能如下：1、8个通道模拟信号连续采集、显示和记录（存盘）；
2、采样率、耦合方式、记录时间（最长60min）、记录文件名和路径等可以在面板设置；
3、记录文件可以读取显示，可选择显示的通道，每屏显示1000个数据，利用滚动条可以定位文件读取起始位置，并自动向后滚动，通过暂停键可以暂停；
4、对显示窗口的波形数据，可以显示波形的有效值、峰峰值、频率等参数；
5、具有光标功能，可以读取光标处的幅值、时间；
6、可以最大化界面，界面不应有明显变形，点击退出按钮可以正常退出。
2、采样率、耦合方式、记录时间（最长60min）、记录文件名和路径等可以在面板设置；
3、记录文件可以读取显示，可选择显示的通道，每屏显示1000个数据，利用滚动条可以定位文件读取起始位置，并自动向后滚动，通过暂停键可以暂停；
4、对显示窗口的波形数据，可以显示波形的有效值、峰峰值、频率等参数；
5、具有光标功能，可以读取光标处的幅值、时间；
6、可以最大化界面，界面不应有明显变形，点击退出按钮可以正常退出。
2023/10/10 13:46:51
469KB
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MIT-BIHECG心电数据（1min，具体信息里面有，像采样率什么的），里面有mat文件；
plotSTM可以用来matlab绘图；
程序有详解；
plotSTM可以用来matlab绘图；
程序有详解；
2023/10/9 1:49:02
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可对音频或数字信号进行重采样，提供了抽取、插值、分数倍采样率转换的代码代码在linux上实现，在windows上只需要建工程编译即可更多代码，可访问：http://code.google.com/p/falab
2023/9/19 16:05:58
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Farrow滤波器的设计，用于采样率的转换。
采样率转换可以看成是一个重采样的过程，先以某一采样率Fx对原始信号采样，将得到的数字信号X（kTx）经过数模转换器变成模拟信号，然后再经过ADC用另一采样率Fy进行采样。
这样的方法优点是采样速率可以任意选择且与原始采样率无关，但是DAC在恢复信号的时候会引入失真，经过二次采样时的ADC变换器中的量化也会引入失真，另外还需要精确的ADC和DAC以及精确的高阶的模拟反镜像滤波器。
所以在模拟领域经行采样率变换是很难实现的。
但是我们可以将采样率变换在全数字领域完成。
直接将一个采样率为Fx的数字信号通过数字滤波器转换成一个采样率为Fy的数字信号。
采样率转换可以看成是一个重采样的过程，先以某一采样率Fx对原始信号采样，将得到的数字信号X（kTx）经过数模转换器变成模拟信号，然后再经过ADC用另一采样率Fy进行采样。
这样的方法优点是采样速率可以任意选择且与原始采样率无关，但是DAC在恢复信号的时候会引入失真，经过二次采样时的ADC变换器中的量化也会引入失真，另外还需要精确的ADC和DAC以及精确的高阶的模拟反镜像滤波器。
所以在模拟领域经行采样率变换是很难实现的。
但是我们可以将采样率变换在全数字领域完成。
直接将一个采样率为Fx的数字信号通过数字滤波器转换成一个采样率为Fy的数字信号。
2023/9/8 19:20:20
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以定时器配合DMAADC模式，形成20KHz的adc采样率，再进行1024个点的fft产生频谱数组，usart打印出来，可供学习或项目中参考。
2023/8/28 21:15:39
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在日常工作中，钉钉打卡成了我生活中不可或缺的一部分。然而，有时候这个看似简单的任务却给我带来了不少烦恼。
每天早晚，我总是得牢记打开钉钉应用，点击"工作台"，再找到"考勤打卡"进行签到。有时候因为工作忙碌，会忘记打卡，导致考勤异常，影响当月的工作评价。而且，由于我使用的是苹果手机，有时候系统更新后，钉钉的某些功能会出现异常，使得打卡变得更加麻烦。
另外，我的家人使用的是安卓手机，他们也经常抱怨钉钉打卡的繁琐。尤其是对于那些不太熟悉手机操作的长辈来说，每次打卡都是一次挑战。他们总是担心自己会操作失误，导致打卡失败。
为了解决这些烦恼，我开始思考是否可以通过编写一个全自动化脚本来实现钉钉打卡。经过一段时间的摸索和学习，我终于成功编写出了一个适用于苹果和安卓系统的钉钉打卡脚本。
2024-04-09 15:03
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