基于GL3520USB3.0集线器USBHUB电路AD设计硬件原理图+PCB+集成库,采用2层板设计,板子大小为100x100mm,双面布局布线,1拖4USB3.0HUB端口,主要器件为GL3520,XM5062,CP2102,FT232R等。
AltiumDesigner设计的工程文件,包括完整的原理图PCB文件,可以用Altium(AD)软件打开或修改,可作为你产品设计的参考。
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德州仪器高性能模拟器件在高校中的应用及选型指南V2.0
2024/5/24 0:10:42 23.74MB 德州仪器
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日本三菱电机公司中央研究所研制成“超高速面发光型双稳光开关”,是用以构成光计算机并行光信息处理的核心器件。
切换两种稳定状态的开关速度,对电输入为12ps,对光输入为30ps,比迄今报导的半导体激光的最髙开关速度200ps要快一个量级。
2024/5/23 5:14:47 558KB
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STM32F407ZET6最小系统板AD设计硬件原理图+PCB+封装库,采用2层板设计,板子大小为95x75mm,双面布局布线,主要器件为STM32F407ZET6,IS62WV51216BLL-55TLI,TFT_LCD接口,W25Q16,AMS1117-3.3V,NRF2401模块接口等。
AltiumDesigner设计的工程文件,包括完整的原理图、PCB文件,可以用Altium(AD)软件打开或修改,已经制板并在实际项目中使用,可作为你产品设计的参考。
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IEEE1149.1标准边界扫描/JTAG,即IEEE/ANSI标准1149.1_1190,是一套设计规则,可以在芯片级、板级和系统级简化测试、器件编程和调试。
该标准是联合测试行动小组(JTAG)(由北美和欧洲的几家公司组成)开发的。
IEEE1149.1标准最初是做为一种能够延长现有自动测试设备(ATE)寿命的片上测试基础结构而开发的。
可以从TexasInstruments边界扫描页面获得更多信息。
利用该标准整合测试设计,允许完全控制和接入器件的边界引脚,而无需不易操作的或其它测试设备。
每个符合JTAG要求的器件的输入/输出引脚上都包括一个边界单元(如图1所示)。
正常情况下,它是透明的和停止运行的,允许信号正常通过。
借助于测试模式下的器件,您可以采集输入信号,以备后期分析之用;
输出信号可以影响板上的其它器件。
2024/5/22 8:28:42 1.27MB JTAG 1149.1
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EPM240cpld最小系统核心板ALTIUM原理图+PCB+verilog测试工程源码,采用2层板设计,板子大小为60x36mm,双面布局布线,主要器件为EPM240T100C5,USB转串口芯片CH340G,LDO-AMS1117-3.3MICIROUSB接口供电。
包括完整的原理图PCB和VERIOLG源码文件,可以用Altium(AD)软件打开或修改,已经制板并在实际项目中使用,可作为你产品设计的参考。
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周立功LPC1752开发板硬件参考资料,包括原理图,数据手册和器件封装。
2024/5/20 17:58:43 10.02MB 周立功LPC1752
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DPD的器件资料,DPD的器件资料,DPD的器件资料,DPD的器件资料,DPD的器件资料,
2024/5/19 2:31:25 3.36MB DPD IP资料
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自适应光学系统的光路通常包含很多光学器件,而各光学器件存在加工误差、装调误差和非均匀热变形等,这些因素会对光束质量产生影响,因此系统内光路相位畸变的校正对获得好的光束质量至关重要。
然而系统光路较长时,激光在传输过程中的衍射效应会对内光路相位畸变的校正效果产生重要影响。
模拟了离焦和像散等实际应用中存在的主要畸变在不同衍射(以菲涅耳数表征)和像差大小下的校正效果。
研究表明:校正效果随着衍射的增强而变差,校正效果良好的菲涅耳数范围为Nf>11;
随着像差的增大相位校正效果变差。
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在日常工作中,钉钉打卡成了我生活中不可或缺的一部分。然而,有时候这个看似简单的任务却给我带来了不少烦恼。 每天早晚,我总是得牢记打开钉钉应用,点击"工作台",再找到"考勤打卡"进行签到。有时候因为工作忙碌,会忘记打卡,导致考勤异常,影响当月的工作评价。而且,由于我使用的是苹果手机,有时候系统更新后,钉钉的某些功能会出现异常,使得打卡变得更加麻烦。 另外,我的家人使用的是安卓手机,他们也经常抱怨钉钉打卡的繁琐。尤其是对于那些不太熟悉手机操作的长辈来说,每次打卡都是一次挑战。他们总是担心自己会操作失误,导致打卡失败。 为了解决这些烦恼,我开始思考是否可以通过编写一个全自动化脚本来实现钉钉打卡。经过一段时间的摸索和学习,我终于成功编写出了一个适用于苹果和安卓系统的钉钉打卡脚本。
2024-04-09 15:03 15KB 钉钉 钉钉打卡