基于MATLAB的信号消噪处理和程序设计本文主要介绍基于MATLAB的信号消噪处理和程序设计，旨在解决信号分析过程中的噪声问题。
信号在采集和传输过程中难免会有噪声夹杂其中，影响目标信号检测与识别性能。
因此，在信号分析过程中，首先要做的就是对信号进行去噪处理。
本文通过利用MATLAB软件对含噪信号进行分析和滤波，重构出消噪后的信号，从而实现信号消噪。
一、MATLAB语言介绍MATLAB是一种高性能的计算机语言，广泛应用于信号处理、图像处理、控制系统等领域。
MATLAB的特点是强大的数学计算能力和灵活的编程环境，使其成为信号处理和分析的首选工具。
MATLAB语言可以轻松地实现信号的生成、分析和处理。
1.1MATLAB简介MATLAB是一种高级语言，具有强大的数学计算能力和灵活的编程环境。
MATLAB可以轻松地实现信号的生成、分析和处理。
1.2MATLAB的具体应用与工具箱MATLAB广泛应用于信号处理、图像处理、控制系统等领域。
MATLAB提供了多种工具箱，如signalprocessingtoolbox、imageprocessingtoolbox等，以满足不同领域的需求。
二、程序流程设计及其原理2.1程序设计流程程序设计流程是指根据信号处理的需求，设计和实现信号处理程序的过程。
程序设计流程包括信号生成、信号分析、信号滤波和信号重构等步骤。
2.2实验原理实验原理是指信号处理的基本理论和方法，包括信号采样、信号量化、信号滤波和信号重构等。
掌握实验原理是进行信号处理和分析的基础。
三、基于MATLAB的信号消噪处理基于MATLAB的信号消噪处理是指使用MATLAB软件对含噪信号进行分析和滤波，重构出消噪后的信号。
信号消噪处理是信号处理的重要步骤，可以提高信号的质量和可靠性。
四、结论基于MATLAB的信号消噪处理和程序设计是信号处理和分析的重要技术。
通过使用MATLAB软件，可以轻松地实现信号的生成、分析和处理，并提高信号的质量和可靠性。

消解原理的代码实现，并有源码和说明文档。

CAN总线协议中CRC编码的VHDL实现针对CAN协议中提出的串行CRC检验原理，给出其实现方法及硬件语言VHDL代码。
为了提高CRC编码的生成速度和CRC检验的效率，介绍了CRC检验的并行原理。
最后给出了为满足CAN协议的VHDL代码。
经过测试，串、并行运算均满足设计要求。

此文件为人民邮电出版社的数据库原理及应用教程(第四版|微课版)的ppt

想学习R-CNN、FastR-CNN、FasterR-CNN必看的5篇经典论文，详细介绍了算法的原理

统计分析软件SPSS的图书源代码--〉《SPSS在统计分析中的应用》，作者：朱建平等，印刷日期：2010-9-29源代码第二章~第十五章，文件大小443kb。
图书目录第1章SPSS软件概述1.1SPSS软件的基本特点和功能 11.2SPSS软件的安装、启动与退出 21.2.1SPSS软件的安装 21.2.2SPSS软件的启动 21.2.3SPSS软件的退出 31.3SPSS操作环境介绍 31.3.1SPSS软件的3个常用窗口 31.3.2SPSS菜单和工具栏 51.3.3SPSS对话框的基本操作方式 5第2章SPSS数据文件管理 72.1SPSS数据文件的结构 72.1.1SPSS数据文件的特点 72.1.2SPSS变量的属性 72.2建立一个数据文件 102.3读取外部数据 112.3.1读取Excel文件 122.3.2读取ASCII码文件 122.4SPSS数据的编辑和保存 152.4.1Edit菜单中的数据编辑功能 152.4.2Data菜单中的数据编辑功能 162.4.3SPSS数据的保存 16第3章数据整理 173.1数据排序 173.2数据排秩 183.3数据转置 193.4选择观测的子集 203.5数据分类汇总 223.6合并数据文件 233.6.1纵向合并（AddCases） 233.6.2横向合并（AddVariables） 243.7数据拆分 263.8计算新变量 283.9数据重新编码 303.10数据分组 313.11数据标准化 32第4章统计描述 344.1基本概念和原理 344.1.1频数分布 344.1.2集中趋势指标 344.1.3离散程度指标 354.1.4反映分布形态的描述性指标 354.2频数分析 364.2.1操作步骤 364.2.2实例结果分析 384.3描述性统计量 394.3.1操作步骤 394.3.2实例结果分析 404.4探索性数据分析 414.4.1操作步骤 424.4.2实例结果分析 444.4.3方差齐性检验的实例 46第5章统计推断 475.1统计推断概述 475.1.1参数估计 475.1.2假设检验 485.2单样本t检验 495.2.1理论与方法 495.2.2操作步骤 495.2.3实例结果分析 505.3两独立样本t检验 515.3.1理论与方法 515.3.2操作步骤 515.3.3实例结果分析 525.4配对样本t检验 535.4.1理论与方法 535.4.2操作步骤 545.4.3实例结果分析 54第6章方差分析 566.1方差分析概述 566.2单因素单变量方差分析 566.2.1理论和方法 566.2.2操作步骤 586.2.3实例结果分析 606.3多因素单变量方差分析 626.3.1理论与方法 626.3.2固定效应、随机效应和协变量 646.3.3操作步骤 656.3.4实例结果分析 676.3.5不考虑交互效应的多因素方差分析 706.3.6引入协变量的多因素方差分析 70第7章非参数检验 727.1非参数检验概述 727.2卡方检验（检验） 727.2.1理论与方法 727.2.2操作步骤 737.2.3实例结果分析 747.3二项分布检验 757.3.1理论与方法 757.3.2操作步骤 757.3.3实例结果分析 767.4游程检验 777.4.1理论与方法 777.4.2操作步骤 777.4.3实例结果分析 787.5单样本K-S检验 797.5.1理论与方法 797.5.2操作步骤 797.5.3实例结果分析 807.6两独立样本检验 807.6.1理论与方法 807.6.2操作步骤 827.6.3实例结果分析 827.7多独立样本检验 847.7.1理论与方法 847.7.2操作步骤 857.7.3实例结果分析 857.8两配对样本检验 877.8.1理论与方法 877.8.2操作步骤 887.8.3实例结果分析 887.9多配对样本检验 907.9.1

本教材介绍了五个方面的内容：MOS器件基本原理以及主要的特性，VLSI中逻辑结构的主要设计方法，用于VLSI系统的模拟集成单元设计方法，VLSI的测试问题与相关技术，VLSI设计系统及其组成。
涉及了五个方面的基础知识：MOS器件基础知识，半导体工艺基础知识，集成电路版图基础知识，逻辑、电路设计基础知识和CAD基础知识。
《VLSI设计基础》作为VLSI设计基础教材，注重相关理论的结论和知识的应用。
可作为本科生教材和研究生参考书。
第1章VLSI设计基础概述1.1VLSI设计技术基础与主流制造技术1.2VLSI设计方法与设计技术1.3新技术对VLSI的贡献1.4ASIC和VLSI1.5SOC1.6VLSI的版图结构和设计技术1.6.1VLSI的版图总体结构1.6.2VLSI版图的内部结构第2章MOS器件与工艺基础2.1MOS晶体管基础2.1.1MOS晶体管结构及基本工作原理2.1.2MOS晶体管的阈值电压VT2.1.3MOS晶体管的电流-电压方程2.1.4MOS晶体管的平方律转移特性2.1.5MOS晶体管的跨导gm2.1.6MOS晶体管的直流导通电阻2.1.7MOS晶体管的交流电阻2.1.8MOS晶体管的最高工作频率2.1.9MOS晶体管的衬底偏置效应2.1.10CMOS结构2.2CMOS逻辑部件2.2.1CMOS倒相器设计2.2.2CMOS与非门和或非门的结构及其等效倒相器设计方法2.2.3其他CMOS逻辑门2.2.4D触发器2.2.5内部信号的分布式驱动结构2.3MOS集成电路工艺基础2.3.1基本的集成电路加工工艺2.3.2CMOS工艺的主要流程2.3.3Bi-CMOS工艺技术第3章工艺与设计接口3.1工艺对设计的制约与工艺抽象3.1.1工艺对设计的制约3.1.2工艺抽象3.2设计规则3.2.1几何设计规则3.2.2电学设计规则3.2.3设计规则在VLSI设计中的应用第4章晶体管规则阵列设计技术4.1晶体管阵列及其逻辑设计应用4.1.1全NMOS结构ROM4.1.2ROM版图4.2MOS晶体管开关逻辑4.2.1开关逻辑4.2.2棒状图4.3PLA及其拓展结构4.3.1“与非-与非”阵列结构4.3.2“或非-或非”阵列结构4.3.3多级门阵列(MGA)4.4门阵列4.4.1门阵列单元4.4.2整体结构设计准则4.4.3门阵列在VLSI设计中的应用形式4.5晶体管规则阵列设计技术应用第5章单元库设计技术5.1单元库概念5.2标准单元设计技术5.2.1标准单元描述5.2.2标准单元库设计5.2.3输入、输出单元（I/OPAD）5.3积木块设计技术5.4单元库技术的拓展第6章微处理器6.1系统结构概述6.2微处理器单元设计6.2.1控制器单元6.2.2算术逻辑单元（ALU）6.2.3乘法器6.2.4移位器6.2.5寄存器6.2.6堆栈6.3存储器组织6.3.1存储器组织结构6.3.2行译码器结构6.3.3列选择电路结构第7章测试技术和可测试性设计7.1VLSI可测试性的重要性7.2测试基础7.2.1内部节点测试方法的测试思想7.2.2故障模型7.2.3可测试性分析7.2.4测试矢量生成7.3可测试性设计7.3.1分块测试7.3.2可测试性的改善设计7.3.3内建自测试技术7.3.4扫描测试技术第8章模拟单元与变换电路8.1模拟集成电路中的基本元件8.1.1电阻8.1.2电容8.2基本偏置电路8.2.1电流偏置电路8.2.2电压偏置电路8.3放大电路8.3.1单级倒相放大器8.3.2差分放大器8.3.3源极跟随器8.3.4MOS输出放大器8.4运算放大器8.4.1两级CMOS运放8.4.2CMOS共源-共栅（cascode）运放8.4.3带有推挽输出级的运放8.4.4采用衬底晶体管输出级的运放8.5电压比较器8.5.1电压比较器的电压传输特性8.5.2差分电压比较器8.5.3两级电压比较器8.6D/A、A/D变换电路8.6.1D/A变换电路8.6.2A/D变换电路8.

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我是2017级的研究生，这是我个人整理的资料，希望能帮到你。
所有资料有2001年到2016年的试卷，还有个人的详细答案，另外还分专题解析，外加技巧提升的相关论文。
希望这些资料对你有帮助。
非常感谢你的支持。
还有就是如果有问题可以在评论区提问，我尽我的力量去帮助你，考研不易，当然，不希望提不经思考的问题。

数字幅度调制又称幅度键控（ASK），二进制幅度键控记作2ASK。
2ASK是利用代表数字信息“0”或“1”的基带矩形脉冲去键控一个连续的载波，使载波时断时续地输出。
有载波输出时表示发送“1”，无载波输出时表示发送“0”。
本设计主要采用相乘法来产生2ASK信号，实现2ASK的数字调制，采用相干解调法对2ASK信号进行解调。

在日常工作中，钉钉打卡成了我生活中不可或缺的一部分。然而，有时候这个看似简单的任务却给我带来了不少烦恼。 每天早晚，我总是得牢记打开钉钉应用，点击"工作台"，再找到"考勤打卡"进行签到。有时候因为工作忙碌，会忘记打卡，导致考勤异常，影响当月的工作评价。而且，由于我使用的是苹果手机，有时候系统更新后，钉钉的某些功能会出现异常，使得打卡变得更加麻烦。 另外，我的家人使用的是安卓手机，他们也经常抱怨钉钉打卡的繁琐。尤其是对于那些不太熟悉手机操作的长辈来说，每次打卡都是一次挑战。他们总是担心自己会操作失误，导致打卡失败。 为了解决这些烦恼，我开始思考是否可以通过编写一个全自动化脚本来实现钉钉打卡。经过一段时间的摸索和学习，我终于成功编写出了一个适用于苹果和安卓系统的钉钉打卡脚本。