描述了基于平均法的buck型、boost型DC/DC建模步骤，包括电压模和峰值电流模，并给出simulink模型图。
2025/12/30 6:54:13
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本案例中使用PLC：CPU1215CDC/DC/DC软件及版本：1.TIAPortalV152.SimaticNetV43.NX12.0.2
2025/11/22 20:04:02
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戴尔R540节能证书DellEMCPowerEdgeR540系统是2U双路机架式系统,支持多达:•两个英特尔至强可扩展处理器•16DIMM插槽•两个AC和DC冗余电源装置(PSU)或单个有线PSU•14个驱动器或固态驱动器注:SAS、SATA硬盘驱动器和SSD的所有实例在本说明文件中都称为驱动器,除非另有说明。
主题:•PowerEdgeR540系统支持的配置•系统的正面视图•背面板功能部件•LCD面板•找到您的系统的服务标签•系统信息标签
主题:•PowerEdgeR540系统支持的配置•系统的正面视图•背面板功能部件•LCD面板•找到您的系统的服务标签•系统信息标签
2025/11/4 11:22:12
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：电压调整模块（VoltageRegulatorModule，简称VRM）广泛使用多相交错并联技术，以实现快速的动态响应且极大地降低输出电流纹波。
本文以一个大功率的三相交错并联Boost变换器作为设计实例，详细说明了其工作原理及主要器件的设计与选用；
论证了该项技术用于BoostDC/DC变换器的多种优点，从而证明了多相交错并联技术的先进性和实用性。
本文以一个大功率的三相交错并联Boost变换器作为设计实例，详细说明了其工作原理及主要器件的设计与选用；
论证了该项技术用于BoostDC/DC变换器的多种优点，从而证明了多相交错并联技术的先进性和实用性。
2025/10/18 19:42:53
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电气伤害的测试主要分为以下四种：01、耐电压测试(DielectricWithstand/HipotTest)：耐压测试在产品的电源端与地端电路上，施以一高压并量测其崩溃状态。
02、绝缘电阻测试(IsolationResistanceTest)：量测产品电气绝缘状态。
03、漏电流测试(LeakageCurrentTest)：检测AC/DC电源流至地端的漏电流是否超过标准。
02、绝缘电阻测试(IsolationResistanceTest)：量测产品电气绝缘状态。
03、漏电流测试(LeakageCurrentTest)：检测AC/DC电源流至地端的漏电流是否超过标准。
2025/10/9 3:25:42
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TPS5430DC/DC转+5V/-5V双电源AD设计硬件原理图+PCB+3D封装库文件，采用2层板设计，板子大小为6033x40mm，双面布局布线，包括完整的原理图和PCB文件，已制板测试验证，可以用AltiumDesigner(AD)软件打开或修改，可作为你产品设计的参考。
2025/9/16 15:43:37
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基于Matlab/SIMULINK的OPGW感应取电仿真模型，使用了PID算法对输出电压进行了整流稳压。
2016a下可以直接运行。
分为三个部分：感应取电，不可控整流，boostPID控制的DC/DC变换，最终输出稳定的直流输出电压给蓄电池供电。
2016a下可以直接运行。
分为三个部分：感应取电，不可控整流，boostPID控制的DC/DC变换，最终输出稳定的直流输出电压给蓄电池供电。
2025/8/27 8:12:35
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在日常工作中，钉钉打卡成了我生活中不可或缺的一部分。然而，有时候这个看似简单的任务却给我带来了不少烦恼。
每天早晚，我总是得牢记打开钉钉应用，点击"工作台"，再找到"考勤打卡"进行签到。有时候因为工作忙碌，会忘记打卡，导致考勤异常，影响当月的工作评价。而且，由于我使用的是苹果手机，有时候系统更新后，钉钉的某些功能会出现异常，使得打卡变得更加麻烦。
另外，我的家人使用的是安卓手机，他们也经常抱怨钉钉打卡的繁琐。尤其是对于那些不太熟悉手机操作的长辈来说，每次打卡都是一次挑战。他们总是担心自己会操作失误，导致打卡失败。
为了解决这些烦恼，我开始思考是否可以通过编写一个全自动化脚本来实现钉钉打卡。经过一段时间的摸索和学习，我终于成功编写出了一个适用于苹果和安卓系统的钉钉打卡脚本。
2024-04-09 15:03
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