CAD应用程序开发详解——VisualC++与OpenGL综合应用CD源码DEMO(王清辉、李静蓉)注意这是附书的CD源码,书的电子档请关注我查找,也一并上传了!
2025/7/2 11:34:11 4.04MB CAD OPENGL 王清辉 李静蓉
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cad标准建库包含各种标准零件,螺钉、螺栓、平垫、弹垫等等
2025/7/1 12:28:34 172.99MB cad 零件库
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在CAD下查找文字和块并用直线指出来,块能直接点击及可
2025/7/1 10:02:13 2KB CAD 查找
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扬州大学电气工程供配电课程设计包括CAD图纸程序,往届遗产,请珍惜使用
2025/7/1 2:35:29 57.42MB 扬州大学 电气工程 供配电 课程设计
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贝塞尔曲线是一种在计算机图形学和数学中广泛使用的参数化曲线,它提供了对形状的精细控制,特别是在曲线拟合和路径设计中。
本资源包含MATLAB源码,用于实现从一阶到八阶的贝塞尔曲线拟合,以及一个拟合后评价标准的文档。
一、贝塞尔曲线基础贝塞尔曲线由法国工程师PierreBézier于1962年提出,它基于控制点来定义。
一阶贝塞尔曲线是线性,二阶是二次曲线,而高阶曲线则可以构建出更复杂的形状。
对于n阶贝塞尔曲线,需要n+1个控制点来定义。
这些曲线的特性在于它们通过首尾两个控制点,并且随着阶数的增加,曲线更好地逼近中间的控制点。
二、MATLAB实现MATLAB是一个强大的数值计算和可视化工具,其脚本语言非常适合进行这样的曲线拟合工作。
`myBezier_ALL.m`文件很可能是包含了从一阶到八阶贝塞尔曲线的生成函数。
这些函数可能接收控制点的坐标作为输入,然后通过贝塞尔曲线的数学公式计算出对应的参数曲线。
MATLAB中的贝塞尔曲线可以通过`bezier`函数或直接使用矩阵运算来实现。
三、贝塞尔曲线拟合拟合过程通常涉及找到一组控制点,使得生成的贝塞尔曲线尽可能接近给定的一系列数据点。
这可能通过优化算法,如梯度下降或遗传算法来实现。
在`myBezier_ALL.m`中,可能包含了一个或多个函数来执行这个过程,尝试最小化曲线与数据点之间的距离或误差。
四、拟合的评价标准"拟合的评价标准.doc"文档可能详述了如何评估拟合的好坏。
常见的评价标准包括均方误差(MSE)、均方根误差(RMSE)或者R²分数。
这些指标可以量化拟合曲线与实际数据点之间的偏差程度。
MSE和RMSE衡量的是平均误差的平方,而R²分数表示模型解释了数据变异性的比例,值越接近1表示拟合越好。
五、应用领域贝塞尔曲线在多个领域有广泛应用,包括但不限于CAD设计、游戏开发、动画制作、图像处理和工程计算。
MATLAB源码的提供,对于学习和研究贝塞尔曲线的特性和拟合方法,或者在项目中创建平滑曲线路径,都是非常有价值的资源。
这份MATLAB源码和相关文档为理解并实践贝塞尔曲线拟合提供了一个完整的工具集。
通过学习和利用这些材料,用户不仅可以掌握贝塞尔曲线的基本概念,还能深入理解如何在实际问题中运用它们进行曲线拟合和评估。
2025/6/30 9:00:23 25KB 贝塞尔曲线 曲线拟合
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Autocad插件,可以局部放大图形,自动添加符号
2025/6/26 10:29:30 18KB cad快捷功能插件
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本教材介绍了五个方面的内容:MOS器件基本原理以及主要的特性,VLSI中逻辑结构的主要设计方法,用于VLSI系统的模拟集成单元设计方法,VLSI的测试问题与相关技术,VLSI设计系统及其组成。
涉及了五个方面的基础知识:MOS器件基础知识,半导体工艺基础知识,集成电路版图基础知识,逻辑、电路设计基础知识和CAD基础知识。
《VLSI设计基础》作为VLSI设计基础教材,注重相关理论的结论和知识的应用。
可作为本科生教材和研究生参考书。
第1章VLSI设计基础概述1.1VLSI设计技术基础与主流制造技术1.2VLSI设计方法与设计技术1.3新技术对VLSI的贡献1.4ASIC和VLSI1.5SOC1.6VLSI的版图结构和设计技术1.6.1VLSI的版图总体结构1.6.2VLSI版图的内部结构第2章MOS器件与工艺基础2.1MOS晶体管基础2.1.1MOS晶体管结构及基本工作原理2.1.2MOS晶体管的阈值电压VT2.1.3MOS晶体管的电流-电压方程2.1.4MOS晶体管的平方律转移特性2.1.5MOS晶体管的跨导gm2.1.6MOS晶体管的直流导通电阻2.1.7MOS晶体管的交流电阻2.1.8MOS晶体管的最高工作频率2.1.9MOS晶体管的衬底偏置效应2.1.10CMOS结构2.2CMOS逻辑部件2.2.1CMOS倒相器设计2.2.2CMOS与非门和或非门的结构及其等效倒相器设计方法2.2.3其他CMOS逻辑门2.2.4D触发器2.2.5内部信号的分布式驱动结构2.3MOS集成电路工艺基础2.3.1基本的集成电路加工工艺2.3.2CMOS工艺的主要流程2.3.3Bi-CMOS工艺技术第3章工艺与设计接口3.1工艺对设计的制约与工艺抽象3.1.1工艺对设计的制约3.1.2工艺抽象3.2设计规则3.2.1几何设计规则3.2.2电学设计规则3.2.3设计规则在VLSI设计中的应用第4章晶体管规则阵列设计技术4.1晶体管阵列及其逻辑设计应用4.1.1全NMOS结构ROM4.1.2ROM版图4.2MOS晶体管开关逻辑4.2.1开关逻辑4.2.2棒状图4.3PLA及其拓展结构4.3.1“与非-与非”阵列结构4.3.2“或非-或非”阵列结构4.3.3多级门阵列(MGA)4.4门阵列4.4.1门阵列单元4.4.2整体结构设计准则4.4.3门阵列在VLSI设计中的应用形式4.5晶体管规则阵列设计技术应用第5章单元库设计技术5.1单元库概念5.2标准单元设计技术5.2.1标准单元描述5.2.2标准单元库设计5.2.3输入、输出单元(I/OPAD)5.3积木块设计技术5.4单元库技术的拓展第6章微处理器6.1系统结构概述6.2微处理器单元设计6.2.1控制器单元6.2.2算术逻辑单元(ALU)6.2.3乘法器6.2.4移位器6.2.5寄存器6.2.6堆栈6.3存储器组织6.3.1存储器组织结构6.3.2行译码器结构6.3.3列选择电路结构第7章测试技术和可测试性设计7.1VLSI可测试性的重要性7.2测试基础7.2.1内部节点测试方法的测试思想7.2.2故障模型7.2.3可测试性分析7.2.4测试矢量生成7.3可测试性设计7.3.1分块测试7.3.2可测试性的改善设计7.3.3内建自测试技术7.3.4扫描测试技术第8章模拟单元与变换电路8.1模拟集成电路中的基本元件8.1.1电阻8.1.2电容8.2基本偏置电路8.2.1电流偏置电路8.2.2电压偏置电路8.3放大电路8.3.1单级倒相放大器8.3.2差分放大器8.3.3源极跟随器8.3.4MOS输出放大器8.4运算放大器8.4.1两级CMOS运放8.4.2CMOS共源-共栅(cascode)运放8.4.3带有推挽输出级的运放8.4.4采用衬底晶体管输出级的运放8.5电压比较器8.5.1电压比较器的电压传输特性8.5.2差分电压比较器8.5.3两级电压比较器8.6D/A、A/D变换电路8.6.1D/A变换电路8.6.2A/D变换电路8.
2025/6/24 15:01:24 12.57MB VLSI
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在日常工作中,钉钉打卡成了我生活中不可或缺的一部分。然而,有时候这个看似简单的任务却给我带来了不少烦恼。 每天早晚,我总是得牢记打开钉钉应用,点击"工作台",再找到"考勤打卡"进行签到。有时候因为工作忙碌,会忘记打卡,导致考勤异常,影响当月的工作评价。而且,由于我使用的是苹果手机,有时候系统更新后,钉钉的某些功能会出现异常,使得打卡变得更加麻烦。 另外,我的家人使用的是安卓手机,他们也经常抱怨钉钉打卡的繁琐。尤其是对于那些不太熟悉手机操作的长辈来说,每次打卡都是一次挑战。他们总是担心自己会操作失误,导致打卡失败。 为了解决这些烦恼,我开始思考是否可以通过编写一个全自动化脚本来实现钉钉打卡。经过一段时间的摸索和学习,我终于成功编写出了一个适用于苹果和安卓系统的钉钉打卡脚本。
2024-04-09 15:03 15KB 钉钉 钉钉打卡