Mask相位法校准液晶空间光调制器的相位调制特性

Mask相位法校准液晶空间光调制器的相位调制特性
提出Mask相位法校准出厂标定波长在532nm的液晶空间光调制器(LC-SLM)在561nm处的相位调制特性曲线。
首先基于傅里叶光学模仿计算得出棋盘型二维相位光栅相位对比度与零级衍射光斑光强之间的对应关系，然后搭建实验光路测量计算机所发灰度图所对应的零级衍射光斑光强值。
根据前面两组结果最后得到相位延迟量与计算机灰度级之间的关系曲线，从而得到LC-SLM在561nm处的相位调制特性曲线。
用4λ的离焦对光斑进行调制，校准之后光斑光强分布与理论计算值之间的偏差为45.7，比校准之前的偏差110.4减少了64.7；
用10λ的倾斜对光斑进行调制，校准之后零级衍射光斑和二级衍射光斑的强度分别是校准前的32.3%和64.1%。
实验结果表明，使用Mask相位法对LC-SLM的相位调制特性曲线进行校准之后，LC-SLM的调制效果有了明显的改进。