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基于Photo-CELIV测量载流子迁移率实验系统

上传者: weixin_38696458 | 上传时间:2024/10/10 10:03:35 | 文件大小:2.46MB | 文件类型:PDF
基于Photo-CELIV测量载流子迁移率实验系统
搭建了一套基于Photo-CELIV测量载流子迁移率的实验系统。
采用Nd3+YAG脉冲激光器作为诱导光源,在1~20Hz的工作频率下,实验系统可输出波长为532nm、脉宽为10ns的激光脉冲,其能量在0.1~1mJ范围内可调,光斑直径小于2mm,激光器持续工作5h后的能量不稳定度为±8%。
该研究为半导体材料载流子迁移率的测量提供了一定的参考。
本软件ID:15050823

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