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高斯光束对平板上突起的单站太赫兹雷达散射截面的影响

上传者: weixin_38639089 | 上传时间:2023/8/6 14:11:15 | 文件大小:1.98MB | 文件类型:PDF
高斯光束对平板上突起的单站太赫兹雷达散射截面的影响
缩比模型测量可以帮助缩短物体雷达散射截面(RCS)测量的时间,并减少其成本,而由于太赫兹波所处的波长范围的独特性,所以其在雷达散射截面缩比测量中有较多的应用。
在对粗糙表面的散射截面计算中,可以将模型简化为带有突起的平板。
单站散射(后向散射)是雷达系统中比较常用的一种测量方式,也有很多针对平面波入射情况下的计算,但是由于太赫兹源所产生的高斯光束的能量分布与平面波不同,得到的雷达散射截面的结果也与平面波不同,常常会导致测量结果和计算结果中有一定的误差。
利用镜像法仿真计算了入射光为高斯光束时平板上的突起在2.52THz频段处的雷达散射截面,详细比较了单站散射分别在二维和三维情况下,由于入射光为高斯光束对散射结果造成的影响。
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