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SW缺陷对硅纳米带结构和输运性能的影响

上传者: weixin_38502929 | 上传时间:2025/1/18 5:21:01 | 文件大小:1.1MB | 文件类型:PDF
SW缺陷对硅纳米带结构和输运性能的影响
利用密度泛函理论和非平衡格林函数技术,我们进行了之字形结构和传输特性的理论研究具有Stone-Wales(SW)缺陷的有机硅纳米带(SiNRs)。
计算的编队能量明显低于石墨烯和硅烯,这意味着SiNRs中此类缺陷的稳定性。
在理想偏置和SW偏置的SiNR中,都可以在一定的偏置电压范围内观察到负差分电阻(NDR)。
为了阐明机理,详细讨论了NDR行为,透射光谱和分子投射的自洽哈密顿量(MPSH)状态。
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